AW35622QNR

USB Type-C Port Protector: OVP And IEC ESD Protection IC

製品マニュアル :

オンラインプレビュー - AW35622QNR-英語版 - 製品マニュアル

参考価格：

1-99￥6.08
100-249￥4.99
250-499￥4.01
500-999￥3.16
1000+￥2.43

製品詳細情報

BW(GHz)	0.16
Channel	4
DC_LS(V)	28
DC_HS(V)	/
Surge_LS（Max）(V)	40
Surge_LS（Min）((V)	-40
Temperature	-40℃~85℃
IO Level (V)	/
Package (mm)	QFN 3X3-20L

QFN 3X3-20L

⚫ Short-to-VBUS Over-Voltage protection ➢ 32VDC tolerance on CC1/2, SBU1/2 ➢ Fast 70ns OVP response Time ⚫ IEC 61000-4-2 ESD protection ➢ ±8kV contact discharge on CC1/2 ➢ ±15kV air gap discharge on CC1/2 ➢ ±6kV contact discharge on SBU1/2 ➢ ±15kV air gap discharge on SBU1/2 ⚫ IEC 61000-4-5 Surge protection ➢ ±40V surge tolerance on CC1/2 ➢ ±25V surge tolerance on SBU1/2 ⚫ Supports USB PD3.1 28V ERP Mode ⚫ CC1/2 with 600mA current capability for VCONN ⚫ Dead battery support without power supplied ⚫ QFN 3.0mm × 3.0mm x 0.75mm-20L package

The AW35622 is a single-chip USB Type-C port protection device that provides Short-to-VBUS 32VDC tolerance and IEC ESD protection. The AW35622 protects the CC and SBU pins without interfering with normal operation by providing over-voltage protection on the CC and SBU pins. The device integrated high voltage FETs in series with the SBU and CC lines. These channels will shut off if a voltage above OVP threshold is detected, isolating the rest of the system from the risk of high voltage. Besides, the AW35622 integrates IEC 61000-4-2 ESD protection for the external pins in Type-C connector as CC1, CC2, SBU1, SBU2, D+ and D-, eliminating the necessity of the external TVS on the connector.

技術文書

	タイプ	プロジェクトタイトル		言語		日付
	产品设计指南	AW3562X 硬件设计指南		中文		2023-03-31
	产品手册	DS_AW35622_EN_V1.2		英文		2025-04-28

设计和开发

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硬件开发

评估板

AW35622QNR_EVB_V1.0 — AW35622QNR EVB V1.0 是Type-C端口保护芯片 AW35622评估板，芯片的关键测试点均在EVB 板上单独引出，方便测试。

AW35622QNR EVB V1.0 是Type-C端口保护芯片 AW35622评估板，芯片的关键测试点均在EVB 板上单独引出，方便测试。

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硬件开发

评估板

AW35622QNR_EVB_V1.0 — AW35622QNR EVB V1.0 是Type-C端口保护芯片 AW35622评估板，芯片的关键测试点均在EVB 板上单独引出，方便测试。

AW35622QNR EVB V1.0 是Type-C端口保护芯片 AW35622评估板，芯片的关键测试点均在EVB 板上单独引出，方便测试。

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